- Исследование структуры материала
- Локальный элементный анализ (от B до U)
- Составление карт распределения элементов
Услуги
Микроскопия (Растровый электронный микроскоп JEOL-6390A)
- Фрактографические исследования
(Возможность увеличения от 5х до 300000х, разрешение до 3 нм, ускоряющее напряжение от 0,5 до 30 кВ) - Определение элементного состава от B до U
- Создание карт распределения элементов
- Анализ твердых, жидких и порошковых материалов.
- Обнаружение и идентификация фаз с объемной долей свыше 0,1%
- Возможность локального анализа области диаметром 1 мм
- Определение фазового состава
- Анализ поверхности и тонких пленок
- определение микротвердости по Мейеру;
- определение модуля Юнга;
- выявление зависимости свойств от глубины в высокоградиентных материалах;
- определение положения границ и раздельное определение свойств материала пленки и субстрата в тонкопленочных структурах без приготовления поперечного шлифа и стравливания поверхности;
- определение адгезионной прочности пленочных покрытий (скретч тест);
- оценка контактной, усталостной и абразивной износостойкости.