Растровый электронный микроскоп JEOL-6390A
Главная функция — получение изображения исследуемого образца, которое зависит от регистрируемого сигнала. Сопоставление изображений, полученных в разных сигналах, позволяет делать вывод о морфологии и составе поверхности. С помощью прибора можно исследовать самые разнообразные материалы – металлы и сплавы, керамики, минералы, полимеры, биологические ткани и многое другое. Основные технические характеристики микроскопа:

• Разрешение до 3 нм;
• Изображение во вторичных электронах;
• Изображение в отражённых электронах;
• Увеличение от 5х до 300 000х;
• Ускоряющее напряжение от 0,5 до 30 кВ;
• Максимальный размер образца до Ø 150 мм.

Далее

Порошковый рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA
Рентгеновская дифракция является универсальным неразрушающим методом анализа, предоставляющим информацию о структуре и фазовом составе различных материалов. Порошковый рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA обладает широкими аналитическими возможностями:

• Анализ твердых, жидких и порошковых материалов.
• Обнаружение и идентификация фаз с объемной долей свыше 0,1%
• Возможность локального анализа области диаметром 1 мм
• Определение фазового состава
• Количественное определение известных фаз в смеси
• Определение и уточнение структуры кристаллов
• Проведение анализа при различных температурах (25 – 1500 °C) в вакууме
• Анализ поверхности и тонких пленок
• Анализ текстуры и микронапряжений

Далее

Наноиндентор Agilent G200
Наноиндентирование – универсальное средство количественной характеризации физических свойств материалов в нано- и микродиапазонах. Наноиндентор Agilent G200 позволяет определять механические свойства нанометровых приповерхностных слоев и субмикронных объемов самых различных материалов – от мягких биологических до сверхтвердых алмазоподобных. В отличие от традиционных испытаний для определения микротвердости, подразумевающих одну меру проникновения для одного силового воздействия (например, по Виккерсу), при наноиндетировании силовое воздействие и глубину проникновения измеряют непрерывно как при движении индентора вглубь материала, так и при обратном движении. Данные о процессе нагружения/смещения содержат множество ценной информации. Наноиндентор Agilent G200 идеально подходит для определения характеристик тонких пленок и покрытий, а также объемных материалов. Образец легко подготовить; все, что требуется – гладкая плоская поверхность. Никакой специальной подготовки "гантелек-образцов" для испытаний. Основные возможности:

• определение микротвердости по Мейеру;
• определение модуля Юнга;
• выявление зависимости свойств от глубины в высокоградиентных материалах;
• определение положения границ и раздельное определение свойств материала пленки и субстрата в тонкопленочных структурах без приготовления поперечного шлифа и стравливания поверхности;
• определение адгезионной прочности пленочных покрытий (скретч тест);
• оценка контактной, усталостной и абразивной износостойкости.

Далее